涂鍍層測厚儀MINITEST 730-特點
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加** -FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤 -溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤 -生產過程中50點校準使儀器獲得高**度的特征曲線 -大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數 -讀數和統(tǒng)計值能單獨調出 -超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉 -菜單指引操作，25種語言可選 -帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC -可下載更新軟件
涂鍍層測厚儀MINITEST 730-標準配置： 帶塑料手提箱，內含： -MINITEST 720(內置探頭) --或MINITEST 730（外置探頭） -校準套裝含校準片和零板 -操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語 -2節(jié)AA電池
涂鍍層測厚儀MINITEST 730技術數據表
F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5
F2
F5，N2.5，F(xiàn)N5
F15
F
N
測量范圍
0-1.5mm
0-0.7mm
0-2mm
0-5mm
0-2.5mm
0-15mm
使用范圍
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用
粗糙表面
標準探頭，使用廣泛
厚涂層
測量原理
磁感應
電渦流
信號處理
探頭內部32位信號處理（SIDSP）
**度
±（1μm+0.75%讀值）
±（1.5μm+0.75%讀值）
±（5μm+0.75%讀值）
重復性
±（0.5μm+0.5%讀值）
±（0.8μm+0.5%讀值）
±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
*小曲率半徑（凸）
1.0mm
1.5mm
5mm
*小曲率半徑（凹，外置探頭）
7.5mm
10mm
25mm
*小曲率半徑（凹，內置探頭）
30mm
*小測量面積
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
*小基體厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
1mm
連續(xù)模式下測量速度
每秒20個讀數
單值模式下*大測量速度
每分鐘70個讀數
涂鍍層測厚儀MINITEST 730-主機
MINITEST 720
MINITEST 730
MINITEST 740
探頭類型
內置
外置
內置外置可換
數據記憶組數
10
100
存儲數據量
*多10,000個
*多100,000個
統(tǒng)計值
讀值個數，*小值，*大值，平均值，標準方差，變異系數，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合國際標準和規(guī)范
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式
出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值
極限值監(jiān)控
聲、光報警提示超過極限
測量單位
um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度
-10℃-60℃
存放溫度
-20℃-70℃
數據接口
IrDA 1.0（紅外接口）
電源
2節(jié)AA電池
標準
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
約175g
約210g
約175g（內置）/230g（外置）
滬公網安備 31011402002798號
