QNix4200涂層測(cè)厚儀為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量磁性基體上的涂鍍層;QNix4200涂層測(cè)厚儀測(cè)量范圍廣,精度高,
QNix4200涂層測(cè)厚儀-優(yōu)點(diǎn): ? 只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn) ? 體積小巧,操作方便 ? 一機(jī)雙用,自動(dòng)識(shí)別基體 ? 精度高 ? 價(jià)格便宜
QNix4200涂層測(cè)厚儀-技術(shù)參數(shù):
QNix4200
磁性基體(Fe模式)
有
測(cè)量范圍
QN4200:Fe:0-3000um
顯示精度
0.1um
精度
0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤±3%讀數(shù)
*小接觸面
10×10mm
*小曲率半徑
凸面:3mm;凹面:25mm
*小基體厚度
Fe:0.2mm
溫度補(bǔ)償范圍
0-60℃
顯示
LCD液晶(帶背光)
探頭
紅寶石固定式
電源
2×1.5V干電池
尺寸
100×60×27mm
重量
110g
滬公網(wǎng)安備 31011402002798號(hào)