產(chǎn)品描述

 

QuaNix4200P涂層測(cè)厚儀（分體式）更方便用戶在臺(tái)階、狹小、拐角及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測(cè)量，QuaNix4200P涂層測(cè)厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無(wú)需校準(zhǔn)，溫度補(bǔ)償，紅寶石探頭，獨(dú)特的直流采樣技術(shù)。

QuaNix4200P涂層測(cè)厚儀（分體式）適合測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等

技術(shù)參數(shù)

 

QuaNix4200P涂層測(cè)厚儀（分體式）-技術(shù)參數(shù)：

 

QuaNix4200P
測(cè)量范圍	QNIX4200P（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um
	QNIX4200P5（分體型）：Fe:0-5000um；NFe:0-5000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um
	50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
	1000-3000um≤±3%讀數(shù)
*小接觸面	10×10mm/QNix4500
*小曲率半徑	凸面：3mm；凹面：25mm
*小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶(帶背光)
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

DPK-12-30  DPK-12-30  ZWQ-I2-30   YTJKPT2  YTJKPT1   TLPK   ROS-2D   PH12-30   PXA-34KK-A   PXA-34K   PK1-2BW   LW-PKG-12-30   HFKPT1-12-30   HFKPT1-N   ZLSJ   ZLSJ   ZLL－Ⅰ  ZLL-Ⅱ   PK   E3F3- DS70P1  LXU1-115G2  LXU1-115G  LJ1-24B  LJ1-24  SQS19-Z4N2  SQS19-Z4N  LXJ0-2D   LXJ0-1A   JWKL12-B   JWKL12-A  LJG8D-15/J2H1  GS-M1522KCT  JWK220-A10JK  JWK220-A)10J  JWK-A10P2  JWK-A10P  JWK-D10P2  JWK-D10P   E3F1-DS8P2  JWK-A5P2