帶方波技術(shù)的Z系列超聲波探傷儀集性能、快捷、專業(yè)、便攜于一身，精準(zhǔn)滿足各種苛刻需求。超越主流的性能與碩德產(chǎn)品特質(zhì)融合，從經(jīng)歷中錘煉技巧，有勇氣挑戰(zhàn)極限。靈敏的反饋、上乘的性能，數(shù)字內(nèi)涵模擬體驗(yàn)、沒有雜波干擾的舒暢感覺，它就像您的第六感官，隨您想法而動(dòng)。Z系列超聲波探傷儀更像是一款披著便攜外衣的檢測(cè)工作站，必將帶領(lǐng)您進(jìn)入檢測(cè)的更高境界。
底波衰減
獨(dú)有性能
底波衰減更適合粗晶材料等需要深度補(bǔ)償功能的探傷 自動(dòng)測(cè)量球墨鑄件球化率，聲速測(cè)量滿足JB9219標(biāo)準(zhǔn) 粗糙表面專用耦合劑 內(nèi)置常用鑄造專用工藝標(biāo)準(zhǔn) 射脈沖能量高/低可調(diào)，與阻尼50/150/400Ω配合，可以獲得佳探傷性能… 底波衰減，深度補(bǔ)償 手動(dòng)/自動(dòng)測(cè)量球化率 國(guó)內(nèi)
底波衰減更適合粗晶材料等需要深度補(bǔ)償功能的探傷
自動(dòng)測(cè)量球墨鑄件球化率，聲速測(cè)量滿足JB9219標(biāo)準(zhǔn)
粗糙表面專用耦合劑
內(nèi)置常用鑄造專用工藝標(biāo)準(zhǔn)
射脈沖能量高/低可調(diào)，與阻尼50/150/400Ω配合，可以獲得佳探傷性能…
底波衰減，深度補(bǔ)償
手動(dòng)/自動(dòng)測(cè)量球化率 國(guó)內(nèi)
通用性能
方波激勵(lì)：適用難以穿透復(fù)合材料 國(guó)內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù)，適用于難以穿透的各種材料?？烧{(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”，實(shí)現(xiàn)與探頭的佳匹配。對(duì)于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料，鑄件，厚板尤其有效，具有的穿透力和信噪比；而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。 窄帶濾波器組(Z) 在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個(gè)常用的窄帶濾波器，信號(hào)通過與探頭匹配的窄帶濾波器，可獲得好的信噪比，從而極大的抑制了噪聲。（達(dá)到無雜波效果） 動(dòng)態(tài)回波： 數(shù)字本質(zhì)，模擬性能 超國(guó)內(nèi)率先達(dá)到10位高精度AD采樣 超長(zhǎng)待機(jī)：20小時(shí)，徹底擺脫充電煩惱 高亮真彩，強(qiáng)光可見，屏幕亮度5級(jí)可調(diào)，節(jié)電環(huán)保 工業(yè)級(jí)寬溫硬件操作，元器件，極低故障率 鎂鋁合金外殼，堅(jiān)固耐用，有效防止電磁干擾
方波激勵(lì)：適用難以穿透復(fù)合材料
國(guó)內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù)，適用于難以穿透的各種材料?？烧{(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”，實(shí)現(xiàn)與探頭的佳匹配。對(duì)于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料，鑄件，厚板尤其有效，具有的穿透力和信噪比；而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
窄帶濾波器組(Z)
在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個(gè)常用的窄帶濾波器，信號(hào)通過與探頭匹配的窄帶濾波器，可獲得好的信噪比，從而極大的抑制了噪聲。（達(dá)到無雜波效果）
動(dòng)態(tài)回波： 數(shù)字本質(zhì)，模擬性能
超國(guó)內(nèi)率先達(dá)到10位高精度AD采樣
超長(zhǎng)待機(jī)：20小時(shí)，徹底擺脫充電煩惱
高亮真彩，強(qiáng)光可見，屏幕亮度5級(jí)可調(diào)，節(jié)電環(huán)保
工業(yè)級(jí)寬溫硬件操作，元器件，極低故障率
鎂鋁合金外殼，堅(jiān)固耐用，有效防止電磁干擾
功能
U盤存儲(chǔ)，即插即用 USB接口可插入U盤，無需驅(qū)動(dòng)，支持熱插撥，即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷報(bào)告存儲(chǔ)、拷屏打印。 二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置 探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對(duì)比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動(dòng)顯示缺陷危害程度，也可實(shí)時(shí)對(duì)比觀測(cè)A掃波形和B掃圖像 超大容量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存：3200個(gè)數(shù)據(jù)組 探傷與高精測(cè)厚一體 5條智能DAC曲線，符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn) 實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型
U盤存儲(chǔ)，即插即用
USB接口可插入U盤，無需驅(qū)動(dòng)，支持熱插撥，即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷報(bào)告存儲(chǔ)、拷屏打印。
二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置
探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對(duì)比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動(dòng)顯示缺陷危害程度，也可實(shí)時(shí)對(duì)比觀測(cè)A掃波形和B掃圖像
超大容量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存：3200個(gè)數(shù)據(jù)組
探傷與高精測(cè)厚一體
5條智能DAC曲線，符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn)
實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型
操作
常用功能一鍵直達(dá) 菜單布局合理 自動(dòng)校準(zhǔn)：聲速、探頭延遲、角度/K值
常用功能一鍵直達(dá)
菜單布局合理
自動(dòng)校準(zhǔn)：聲速、探頭延遲、角度/K值
球化率測(cè)量
二維編碼B掃描
DAC曲線 DGS曲線
回波編碼（波形方式 VS. 坐標(biāo)方式）
性能指標(biāo)
檢測(cè)范圍
1.0~15000mm
檢測(cè)分辨率
0.01mm(<100mm)；1mm(>100mm)
聲速
500~20000m/s；20個(gè)固定聲速
顯示延遲
-20~3400us 分辨力: 0.1us
探頭延遲
0~99us 分辨力: 0.01us
自動(dòng)校準(zhǔn)
通過兩個(gè)已知參考回波自動(dòng)校準(zhǔn)聲速和探頭延遲
線性誤差
水平 ≤0.1% 垂直 ≤3%
動(dòng)態(tài)范圍
≥36dB
靈敏度余量
≥64dB 200mmФ2平底孔
外型尺寸
240×180×50mm
重量
1.9Kg（包括電池組）
工作環(huán)境
溫度：-20℃~70℃；濕度：5%～90%
發(fā)射脈沖
激勵(lì)脈沖
方波/負(fù)尖脈沖
發(fā)射重復(fù)頻率
自動(dòng)優(yōu)化發(fā)射重復(fù)頻率，高大于1KHz
阻尼匹配
50/150/400Ω
接收系統(tǒng)
檢測(cè)模式
脈沖回波/發(fā)射接收/透射
測(cè)量方式
峰值/邊沿
增益
0~110dB 步距0/0.1、0.2/0.5/1/2/6/12/自定義
檢波方式
正/負(fù)半波/RF/全波
頻率帶寬
0.3~1 / 0.5~4 /2~15MHz
顯示
LCD
5.7"工業(yè)級(jí)寬溫高亮TFT彩色液晶
背光亮度
5級(jí)可調(diào)
顯示刷新率
不小于60Hz
GUI主題
簡(jiǎn)約/經(jīng)典/灰度/強(qiáng)光/弱光5種，用戶可通過設(shè)置文字、A掃波形、背景、坐標(biāo)顏色自由定制主題
閘門/測(cè)值/報(bào)警
閘門
A/B兩個(gè)獨(dú)立閘門
測(cè)值顯示
5個(gè)測(cè)值顯示區(qū)，其中1個(gè)為主顯示區(qū)，可選擇測(cè)值內(nèi)容SA/SB/DA/DB/PA/PB/A%A/A%B/dBtA/dBtB/dBrA/dBrB/SBA/DBA/PBA/LA/LB
報(bào)警
各閘門可獨(dú)立邏輯報(bào)警
存儲(chǔ)
通道參數(shù)
20組
A掃波形
3200組
厚度值
32萬個(gè)，線性
波形參考
4幅參考波形
輸入輸出
探頭連接
LEMO或BNC
通訊
RS232
區(qū)域
時(shí)鐘
實(shí)時(shí)顯示日期時(shí)間
語(yǔ)言
中英文
單位
mm/inch
電源
電池
高能鋰電池，具有的過充過放保護(hù)
電源監(jiān)測(cè)
基于庫(kù)侖計(jì)量的電池能量監(jiān)測(cè)，百分比/續(xù)航時(shí)間顯示剩余電量
工作時(shí)間
可連續(xù)工作20小時(shí)以上
電源適配器
輸入100~240V/50~60Hz ；輸出9VDC/4A
當(dāng)量曲線
DAC曲線
可記錄30標(biāo)定點(diǎn)；自動(dòng)增益；任意順序標(biāo)定；標(biāo)定/編輯兩種修正方式；考慮了材料衰減和表面補(bǔ)償因素；5條增益可調(diào)評(píng)估曲線符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn)
DGS曲線
適用于大平底、平底孔、通孔三種參考類型,考慮了參考衰減、材料衰減和表面補(bǔ)償因素, 缺陷評(píng)估方式：當(dāng)量大小/當(dāng)量增益/百分比
CSC曲面校正
可根據(jù)探頭角度、工件厚度和曲率直徑對(duì)測(cè)值進(jìn)行修正
鎖定
各菜單可獨(dú)立鎖定從而避免系統(tǒng)相關(guān)參數(shù)調(diào)節(jié)；數(shù)據(jù)組亦可鎖定避免數(shù)據(jù)誤刪除
屏幕保護(hù)
待機(jī)/文字/關(guān)機(jī)
標(biāo)配
主機(jī)
直探頭
斜探頭
探頭線
充電器
說明書
包裝箱
耦合劑
1臺(tái)
1個(gè)
1根
1組（已在主機(jī)內(nèi)）
1本
1瓶
選配
超大容量電池
超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間，持續(xù)工作20小時(shí)
RF射頻輸出
用于薄壁材料測(cè)量以及對(duì)缺陷深入研究和定性分析
打印機(jī)
TP串行打印機(jī)，可直接打印拷屏/波形/厚度三種數(shù)據(jù)報(bào)告
10000mm超大測(cè)量范圍
USB
UFD-Z6C
UFD-Z6C鑄造專用型彩屏數(shù)字超聲探傷儀
UFDZ6C
滬公網(wǎng)安備 31011402002798號(hào)
