一、 用途:
測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一,它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:
1. 直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度,例如測(cè)定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。
2. 轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測(cè)定角度,例如對(duì)刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測(cè)量。
3. 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版,檢驗(yàn)紡織纖維等等。
二、 規(guī)格:
物 鏡
目 鏡
顯微鏡
放大倍數(shù)
工作
距離
(mm)
視場(chǎng)
直徑
放大倍數(shù) / 數(shù)值孔徑
焦距(mm)
2.5×/ 0.08
43.40
10×
帶分劃板
25.00
25×
58.84
5.6
10×/ 0.25
17.13
100×
7.81
1.4
測(cè)量工作臺(tái)讀數(shù)裝置主要規(guī)格
X—軸移動(dòng)測(cè)量范圍 50mm
Y—軸移動(dòng)測(cè)量范圍 13mm
測(cè)微器分度值 0.01mm
測(cè)量臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍 不限
測(cè)量臺(tái)刻度盤分度范圍 0° -360 °
測(cè)量臺(tái)刻度盤之分度值 1°
測(cè)量臺(tái)刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值 6′
測(cè)量精度:
儀器示值誤差±(5+L/15)μm
儀器示值誤差: 包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注: 測(cè)量地點(diǎn)溫度變化(20°C±3°C)
L—被測(cè)件長(zhǎng)度(mm)
三、 儀器之主要尺寸:
測(cè)量臺(tái)與物鏡之間*大距離 80mm
測(cè)量工作臺(tái)直徑 120mm
儀器外形尺寸(長(zhǎng)×寬×高) 262×220×325mm
儀器重量 約10.6㎏
另配照明器為:15JA測(cè)量顯微鏡
LX-D E2EM-X4X2 LD-YJ LAC-YJ LX-F W-20-15DS B-20 TH-110 LD-J LAC-J AT-220 E2EM-X4X1 E2EM-X8X1 E2EM-X8X2 AT-230 AT-220F AT-230F AT-260 AT-280 E2EM-X15X1 TR-200 E2EM-X15X2 E2EM-X16MX1 AM-63A
滬公網(wǎng)安備 31011402002798號(hào)