儀器簡介：
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥 物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在＜200℃時(shí)）
±2℃（在200~300℃時(shí)）
X-4
X-4A
X-4B
溫度顯示*小示值
1℃
0.1℃
0. 1℃
熔點(diǎn)觀察方式
單目顯微鏡
雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)
40X
40X~100X變倍
X-4 顯微熔點(diǎn)儀
X4
滬公網(wǎng)安備 31011402002798號(hào)
